原位分析技术是在扫描电子显微镜（SEM）中进行的一种实时分析方法，它允许研究者在模拟实际使用条件下观察材料的行为。这种技术通过在SEM内部进行加热、施加外力或使用聚焦离子束（FIB）进行切割，以实时捕捉到材料在不同外部条件如温度、应力作用下的微观结构变化。一般的材料研究都是在非原位状态下进行的，即在材料受到外部条件（如温度、湿度、负荷等）影响之前和之后进行分析。而原位试验可以实时获得所需数据，从而建立动态观察测量系统。

尽管透射电子显微镜（TEM）在分辨率方面有其独特优势，是研究物质结构和观察微观现象的强大工具，但是SEM在原位分析方面也取得了显著进展。新一代SEM的结构改进和计算、测量系统的创新，使它在观察材料微观形貌变化方面表现出色。结合EBSD和EDS等探测器，SEM不仅能提供高分辨率的图像，还能分析材料的晶体取向和化学成分的演变，从而详细研究材料在微观尺度上的力学行为。

在选择研究工具时，重要的是考虑现象发生的尺度。一些现象可能需要宏观尺度的观察，而其他的可能需要微观或纳米级别的分析。因此，无论是使用摄像机、光学显微镜、SEM还是TEM，选择合适的仪器对于正确记录和理解每一种现象都至关重要。

图1 原位动态拉伸试验台示意图